Il y a une quinzaine d'années, une nouvelle technique, appelée AFM-IR, a été développée et brevetée par Alexandre Dazzi, professeur à l’Institut de Chimie-Physique de l’université Paris-Saclay. Elle permet de coupler la résolution spatiale de la microscopie à force atomique (AFM) et la capacité d'analyse chimique de la spectroscopie infrarouge (IR). Cette technique permet de localiser des composés grâce à leur signature IR avec une résolution qui est celle de l'AFM, de l'ordre de la dizaine de nanomètres.

Ce dossier présente cette technique analytique et donne des exemples de ses utilisations actuelles. Il comporte trois articles :

  • Le premier présente le principe de cette technique ainsi qu'un dispositif commercial ;
  • Le deuxième illustre ses applications dans le cas du traitement contre le cancer du sein ;
  • Le troisième se focalise sur son utilisation dans l'étude des nanoparticules.

Avant de consulter le dossier, le lecteur est invité à se reporter aux articles sur la microscopie à force atomique (AFM) et la spectroscopie infra-rouge (IR) déjà publiés sur CultureSciences-Chimie.

À lire au préalable
À lire au préalable
1er article du dossier
2e article du dossier
3e article du dossier